合作商家

主要产品:透射电子显微镜、透射电子显微、离子束显微镜等,以及可满足多个行业纳米尺度应用的相关产品。


联系人:陈瑛
手 机:
地 址:上海浦东碧波路690号张江微电子港8号楼102室
邮 编:

当前位置:首页 > FEI > Helios NanoLab™DualBeam™(FIB/SEM)

Helios NanoLab™DualBeam™(FIB/SEM)

型号:Helios NanoLab™DualBeam™
类别:显微镜>>扫描电子显微镜
促销:未促销
价格:
厂商:FEI

  产品详情

  纳米级物质成像、分析和控制 — 这些未来研发的关键因素 — 因 Helios NanoLab DualBeam 系列仪器的诞生而变得普通平淡。 这些仪器融合了扫描电子显微镜 (SEM) 和聚焦离子束 (FIB) 技术,包括创新的气体化学、检测器和操纵器。 凭借无与伦比的 SEM 分辨率、图像质量和令人惊叹的 Tomahawk?FIB 性能,半导体和数据存储实验室、研究机构和工业界均可轻松快捷地实现样品成像、铣蚀或制备。

  仪器(设备)所属领域:扫描电子显微镜

  应用领域:高校材料、化工等学院实验室,大型企业实验室。

  联系方式:电话:021 50278805 传真:021 50278209

  网址:http://www.fei.com

  E-mail:china.feibox@fei.com

  

 

高校分析测试中心研究会 版权所有 Copyright © 1999-2012, All Rights Reserved   
中国教育装备采购网 设计维护 京ICP备05038339号-2